您的位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > > 抗干擾介質(zhì)損耗測試儀 > 抗干擾介質(zhì)損耗測試儀（CVT變比）
產(chǎn)品中心
-
產(chǎn)品名稱：
抗干擾介質(zhì)損耗測試儀（CVT變比）
廠商性質(zhì)： 生產(chǎn)廠家產(chǎn)品時間： 2025-11-04抗干擾介質(zhì)損耗測試儀（CVT變比），標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高壓穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與標(biāo)準(zhǔn)電阻網(wǎng)絡(luò)組成，由計算機(jī)實時采集標(biāo)準(zhǔn)回路電流與測試回路的電流幅值及其相位差，并算出被測試品電容容值（CX）和介質(zhì)損耗（tgδ）。
產(chǎn)品介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,地礦,道路/軌道/船舶 |
|---|
產(chǎn)品概述：
抗干擾介質(zhì)損耗測試儀（CVT變比），標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高壓穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與標(biāo)準(zhǔn)電阻網(wǎng)絡(luò)組成，由計算機(jī)實時采集標(biāo)準(zhǔn)回路電流與測試回路的電流幅值及其相位差，并算出被測試品電容容值（CX）和介質(zhì)損耗（tgδ）。
抗干擾介質(zhì)損耗測試儀（CVT變比）技術(shù)指標(biāo)：
1、試驗環(huán)境溫度：10℃～30℃（LCD液晶屏應(yīng)避免長時間日照）
2、高壓介質(zhì)損耗測試儀，相對濕度：20%～80%
3、供電電源：電壓：220V±10%，頻率50±1Hz
4、外形尺寸：長*寬*高=470mm*320mm*360mm
5、重量：18kg
6、輸出功率：1.5KVA
7、顯示分辨率：3位、4位（內(nèi)部全是6位）
8、測試方法：正接法、反接法、外接試驗電壓法
9、測量范圍：內(nèi)接試驗電壓：
tgδ：99.9%
Cx ：30 pF＜Cx（10KV）＜60000 pF
10KV Cx＜60000 pF
5KV Cx＜80000 pF
2.5KV Cx＜0.3uF
外接試驗電壓：由外接試驗變壓器輸出功率而定
10、基本測量誤差：介質(zhì)損耗（tgδ）：1%±0.09%
電容容量（Cx）：1.5%±1pF
11、分辨率： tgδ：0.01% Cx ：0.1pF
工作原理：
儀器測量線路包括一路標(biāo)準(zhǔn)回路和一路測試回路，如圖三所示。
標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高壓穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與標(biāo)準(zhǔn)電阻網(wǎng)絡(luò)組成，由計算機(jī)實時采集標(biāo)準(zhǔn)回路電流與測試回路的電流幅值及其相位差，并算出被測試品電容容值（CX）和介質(zhì)損耗（tgδ）。
數(shù)據(jù)采集電路全部采用高壓穩(wěn)定器件，采集板和采集計算機(jī)被鐵盒*浮空屏蔽，儀器外殼接地屏蔽；另外使用了光導(dǎo)數(shù)據(jù)、浮空地、大面積地、單點地、數(shù)字濾波等抗干擾技術(shù)，加之計算機(jī)對數(shù)百個電網(wǎng)周期的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，使測量結(jié)果穩(wěn)定、***、可靠。
儀器高壓器的高壓側(cè)和測量線路都是浮地的，用戶可根據(jù)不同的測量對象和測量需要，靈活地采用多種接地方式。如采用“正接線法”進(jìn)行測量時，可將“E”點接地；而當(dāng)采用“反接法”進(jìn)行測量時，可將“UH”點接地，而將E點浮空。
操作鍵盤：
備用------不用。
快測-------快速測量，無抗干擾功能。
抗擾-------抗干擾測量。
正接-------正接法測量。
打印-------在測試結(jié)果出來后，打印測試數(shù)據(jù)。
反接-------反接法測量。
起動-------起動高壓，開始測量。
外接-------外接法測量。也用來選擇外接標(biāo)準(zhǔn)電容的容量。
停止-------可以在測試過程中，中斷測量。
相關(guān)產(chǎn)品
